短暂性脑缺血发作后短期进展为脑梗死的风险分析

刘宏顺; 张春良; 顾莹辉

中国临床医学影像杂志 ›› 2011, Vol. 22 ›› Issue (9) : 648-651.

短篇论著

短暂性脑缺血发作后短期进展为脑梗死的风险分析

刘宏顺，张春良，顾莹辉

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Analysis risk of cerebral infarction resulting from transient ischemic attack

LIU Hong-shun, ZHANG Chun-liang, GU Ying-hui

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摘要

目的：分析短暂性脑缺血发作（TIA）患者短期进展为脑梗死的危险因素。方法：回顾性分析68例住院TIA患者的临床资料和磁共振血管成像（MRA）检查结果，其中男46例（67.6％），女22例（32.4％），年龄17～85岁，平均（59.15±14.05）岁，按ABCD2评分标准给予评分，观察TIA后2d和7d脑梗死的发生率，并分析ABCD2评分、颅内动脉病变与TIA后短期脑梗死发生的关系。结果：TIA后37例（61.7％）患者于7d内发生脑梗死，其中在2d内发生脑梗死的24例（40％）；ABCD2评分与TIA后2d和7d脑梗死发生率之间有直线相关关系，ABCD2评分越高，脑梗死的发生率越高（P＜0.001）；有颅内动脉病变的TIA患者在2d和7d脑梗死的发生率比无颅内动脉病变的患者明显增高，差异有统计学意义（P＜0.01）；在年龄≥60岁、血压≥140/90mmHg、症状持续时间≥10min、高血压史、颅内动脉病变的患者中脑梗死的发生率明显增高（P＜0.05），而在单肢无力、语言障碍不伴无力、症状持续时间＜10min、糖尿病的患者中脑梗死的发生率无明显增高（P＞0.05）。结论：ABCD2评分法有一定的临床价值及预测性，可作为一种临床预测TIA患者短期脑梗死发生的简单评估方法；ABCD2评分结合磁共振血管成像表现能进一步提高预测的准确性。

关键词

脑梗塞 / 脑缺血发作 / 短暂性 / 磁共振成像 / 血管造影术 / 数字减影

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刘宏顺;张春良;顾莹辉. 短暂性脑缺血发作后短期进展为脑梗死的风险分析[J]. 中国临床医学影像杂志. 2011, 22(9): 648-651

LIU Hong-shun;ZHANG Chun-liang;GU Ying-hui. Analysis risk of cerebral infarction resulting from transient ischemic attack[J]. Journal of China Clinic Medical Imaging. 2011, 22(9): 648-651

中图分类号： Ｒ743.31 R743.33 Ｒ445.2 R814.43